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簡要描述:芯片低溫測試環(huán)境復(fù)疊式制冷裝置是一種高效、可靠的低溫解決方案,尤其適用于需要極低溫度(如-40°C以下)的半導(dǎo)體測試場景。
詳細(xì)介紹
芯片低溫測試環(huán)境復(fù)疊式制冷裝置選型,價(jià)格,方案等與江蘇康士捷機(jī)械設(shè)備有限公司溝通,多案例供參考。
康士捷生產(chǎn)的工業(yè)控溫設(shè)備有高溫型(5℃~35℃)、中溫型(-5℃~-40℃)、低溫型(-40℃~-80℃)、超低溫型(-150℃~-80℃)、冷熱兩用型(-150℃~+300℃)等系列產(chǎn)品供貴司選用。制冷量大小都有,有防爆型,防腐型,撬裝式,變頻型等。接受非標(biāo)定做。溫度穩(wěn)定性±0.1℃等可選。
以下列出部分參數(shù),貴司參數(shù)溝通選型后確認(rèn)。
快速降溫:測試腔體需在10~15分鐘內(nèi)從室溫降至-100°C(依賴熱負(fù)荷和制冷量)。
溫度均勻性:測試區(qū)域溫差<±1°C(通過風(fēng)冷/液冷均勻化設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn))。
低振動:采用減震壓縮機(jī)或分體式設(shè)計(jì),避免振動影響芯片測試精度。
防結(jié)露:真空絕熱層(多層屏蔽+分子篩)防止低溫表面凝露。
中間溫度優(yōu)化:通過調(diào)整高溫級蒸發(fā)溫度(如-50°C)平衡兩級COP。
回?zé)崞?/span>:增加回?zé)嵫h(huán)(如R23系統(tǒng))提升低溫級效率。
變頻驅(qū)動:根據(jù)熱負(fù)荷動態(tài)調(diào)節(jié)壓縮機(jī)轉(zhuǎn)速,降低功耗。
芯片低溫測試環(huán)境復(fù)疊式制冷裝置選型與江蘇康士捷機(jī)械設(shè)備有限公司溝通。
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